Taramalı elektron mikroskobu: Revizyonlar arasındaki fark

 

'''Taramalı Elektron Mikroskobu''' veya '''SEM''' (Scanning Electron Microscope), çok küçük bir alana odaklanan yüksek [[enerji]]li [[elektron]]larla yüzeyin taranması prensibiyle çalışır. Manfred von Ardenne öncülüğünde [[1930]]'lı yıllarda geliştirilmiştir. En sık kullanıldığı biçimiyle, yüzeyden yayılan ''ikincil'' (secondary) [[elektron]]larla yapılan ölçüm, özellikle yüzeyin engebeli (topografik) yapısıyla ilişkili bir görüntü oluşturur.