Taramalı elektron mikroskobu: Revizyonlar arasındaki fark

k
→‎Çalışma ilkesi: düzenleme, yazım ve imla, değiştirildi: topografik → topoğrafik
[kontrol edilmiş revizyon][kontrol edilmiş revizyon]
k (Bot v3: Kaynak ve içerik düzenleme (hata bildir))
k (→‎Çalışma ilkesi: düzenleme, yazım ve imla, değiştirildi: topografik → topoğrafik)
== Çalışma ilkesi ==
[[Dosya:SEM_chamber1.JPG |200px|küçükresim| Taramalı Elektron Mikroskobunun vakum odasının görüntüsü.]]
Yüksek enerjili demet elektronları numune atomlarının dış yörünge elektronları ile elastik olmayan girişimi sonucunda düşük enerjili [[Auger etkisi|Auger elektronları]] oluşur. Bu elektronlar numune yüzeyi hakkında bilgi taşır ve Auger spektroskopisinin çalışma prensibini oluşturur. Yine yörünge elektronları ile olan girişimler sonucunda yörüngelerinden atılan veya enerjisi azalan demet elektronları numune yüzeyine doğru hareket ederek yüzeyde toplanırlar. Bu elektronlar ikincil elektron olarak tanımlanır. İkincil elektronlar numune odasında bulunan sintilatörde toplanarak ikincil elektron görüntüsü sinyaline çevrilir. İkincil elektronlar numune yüzeyinin 10 nm veya daha düşük derinlikten geldiği için numunenin yüksek çözünürlüğe sahip topografiktopoğrafik görüntüsünün elde edilmesinde kullanılır
 
== Görüntü Almadaki Değişkenler ==
25.736

düzenleme