Taramalı elektron mikroskobu: Revizyonlar arasındaki fark

düzenleme özeti yok
[kontrol edilmemiş revizyon][kontrol edilmiş revizyon]
(78.175.79.107 (k - m - e) tarafından yapılan değişiklik geri alınıyor.)
Değişiklik özeti yok
'''Taramalı Elektron Mikroskobu''' veya '''SEM''' (Scanning Electron Microscope), çok küçük bir alana odaklanan yüksek [[enerji]]li [[elektron]]larla yüzeyin taranması prensibiyle çalışır. Manfred von Ardenne öncülüğünde [[1930]]'lı yıllarda geliştirilmiştir. En sık kullanıldığı biçimiyle, yüzeyden yayılan ''ikincil'' (secondary) [[elektron]]larla yapılan ölçüm, özellikle yüzeyin engebeli (topografik) yapısıyla ilişkili bir görüntü oluşturur.
 
== Dış Bağlantılarbağlantılar ==
 
== Dış Bağlantılar ==
* [http://www.uga.edu/caur/semnote1.htm] SEM ile ilgili bilgiler (ingilizce).
 
1.333.128

düzenleme